TY -
BOOK
AU - Kressel, Henry
TI -
Characterization of epitaxial semiconductor films
PB - Elsevier
SN - 044441438X
KW - Halbleiterschicht
KW - Epitaxie
PY - 1976
N2 - Aus: Thin solid films ; 31
BT - Methods and phenomena ; 2
CY - Amsterdam [u.a.]
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -