TY
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GEN
AU
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Fallot-Burghardt, Wolfgang
AU
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Knöpfle, Karl-Tasso
TI
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Strahlenschäden in dem CMOS Verstärker- und Auslesechip VIKING 2
KW
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Hochschulschrift
PY
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18 Jun. 2021
CY
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Heidelberg
UR
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http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER
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