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Engström, Arne [VerfasserIn]

X-Ray Microanalysis in Biology and Medicine

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Amsterdam; New York: Elsevier Pub., 1962

Erschienen in: Elsevier monographs ; 19
Jacobsen, Chris [VerfasserIn]

X-ray microscopy

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Cambridge; New York; Port Melbourne; New Delhi; Singapore: Cambridge University Press, 2020

Erschienen in: Advances in microscopy and microanalysis
Goldstein, Joseph [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Goldstein, Joseph I. [HerausgeberIn]

Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis : a text for biologists, materials scientists, and geologists - [2. ed.]

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New York [u.a.]: Plenum Press, 1992
Fultz, Brent [VerfasserIn]; Howe, James M. [VerfasserIn]

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials : with numerous exercises - [2. ed., corr. 2. print.]

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, [2004]

Erschienen in: Physics and astronomy online library
Poulsen, Henning F. [VerfasserIn]

Three-dimensional X-ray diffraction microscopy : mapping polycrystals and their dynamics

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2004

Erschienen in: Springer tracts in modern physics ; 205
Fultz, Brent [VerfasserIn]; Howe, James M. [VerfasserIn]

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials

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Berlin; Heidelberg; New York; Barcelona; Hong Kong; London; Milan; Paris; Singapore; Tokyo: Springer, 2001

Erschienen in: Physics and astronomy online library
Goldstein, Joseph [VerfasserIn]; Newbury, Dale E. [VerfasserIn]; Michael, Joseph R. [VerfasserIn]; Ritchie, Nicholas W. M. [VerfasserIn]; Scott, John Henry J. [VerfasserIn]; Joy, David C. [VerfasserIn]

Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis - [Fourth edition]

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New York, NY, U.S.A.: Springer, [2018]
Echlin, Patrick [VerfasserIn]

Handbook of sample preparation for scanning electron microscopy and x-ray microanalysis

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New York, NY: Springer, 2009
Lyman, Charles E. [HerausgeberIn]; Newbury, Dale E. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Goldstein, Joseph [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Williams, David B. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Romig, Alton D. Jr [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Armstrong, John T. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Echlin, Patrick [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Fiori, Charles E. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Joy, David C. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Lifshin, Eric [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Peters, Klaus-Ruediger [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Scanning electron microscopy, X-ray microanalysis, and analytical electron microscopy : a laboratory workbook

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New York [u.a.]: Plenum Press, 1990
Fultz, Brent [VerfasserIn]; Howe, James M. [VerfasserIn] ; Howe, James [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials - [4. ed.]

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2013

Erschienen in: Graduate texts in physics
Newbury, Dale E. [HerausgeberIn]; Joy, David C. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Echlin, Patrick [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Fiori, Charles E. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Goldstein, Joseph I. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Advanced scanning electron microscopy and x-ray microanalysis

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New York [u.a.]: Plenum Press, 1986
Goldstein, Joseph I. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis - [3. ed., corr. print.]

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New York [u.a.]: Springer, 2007
Lawes, Grahame [VerfasserIn]

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis

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Chichester [u.a.]: Wiley, 1987

Erschienen in: Analytical chemistry by open learning
Eberhart, Jean P. [VerfasserIn]; Eberhart, Jean Pierre [VerfasserIn]

Structural and chemical analysis of materials : x-ray, electron and neutron diffraction ; x-ray, electron and ion spectrometry ; electron microscopy - [Reprinted]

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Chichester [u.a.]: Wiley, 1995
Usov, Denys [VerfasserIn]

Switching of surface composition and morphology of binary polymer brushes

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2004
Beyerlein, Gerd-Sebastian [VerfasserIn] ; Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen

Synthese und Eigenschaften polyurethanbasierter Aerogele auf Basis rohstofflich recycelter Reststoffe

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Aachen, [2021?]
Chandler, John A. [VerfasserIn]

X-ray microanalysis in the electron microscope - [Laboratory ed.]

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Amsterdam [u.a.]: North-Holland Publ., 1977

Erschienen in: Practical methods in electron microscopy ; 5,2
Patommel, Jens [VerfasserIn]

Hard X-Ray scanning microscope using nanofocusing parabolic refractive lenses - [1. Aufl.]

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Göttingen: Cuvillier, 2011
Michette, Alan G. [HerausgeberIn] ; International Symposium X-Ray Microscopy 3 1990 London

X-ray microscopy / 3, London, September 3-7, 1990 / A. G. Michette ... (eds.)

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Berlin; Heidelberg: Springer, 1992

Erschienen in: X-ray microscopy ; 3 - Springer series in optical sciences ; 67
International Symposium on X-Ray Microscopy, Symposium X-Ray Microscopy

X-ray microscopy

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1984- / [1.]1983(1984); 2.1987(1988); 3.1992 -

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