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  1. Eiche, Clemens; Schwarz, Ralf; Joerger, Wolfgang; Fiederle, Michael; Ebling, Dirk G.; Benz, Klaus-Werner

    Nondestructive characterization of Ti-doped and V-doped CdTe by time-dependent charge measurement

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    SPIE, 1995

    Erschienen in: SPIE Proceedings

  2. Ebling, Dirk G.; Eiche, Clemens; Fiederle, Michael; Joerger, Wolfgang; Laasch, M.; Salk, Manfred; Schwarz, Ralf; Benz, Klaus-Werner

    Resistivity and deep-level investigations of detector-grade CdTe: a comparison of different growth techniques

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    SPIE, 1995

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