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  1. Wagner, Thomas; Schuster, Stefan; Pfeil, Reimar; Stelzer, Andreas

    Bias and Variance in Frequency Estimation at the Leading Edge of a Peak in the Spectrum of a Windowed Signal Under Multipath Mitigation

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2013

    Erschienen in: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement

  2. Scherhaufl, Martin; Pichler, Markus; Schimback, Erwin; Muller, Dominikus J.; Ziroff, Andreas; Stelzer, Andreas

    Indoor Localization of Passive UHF RFID Tags Based on Phase-of-Arrival Evaluation

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2013

    Erschienen in: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques

  3. Lubanco, Daniel Louback S.; Hashem, Ahmed; Pichler-Scheder, Markus; Stelzer, Andreas; Feger, Reinhard; Schlechter, Thomas

    R3O: Robust Radon Radar Odometry

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2023

    Erschienen in: IEEE Transactions on Intelligent Vehicles

  4. Nguyen, Minh Q.; Feger, Reinhard; Bechter, Jonathan; Pichler-Scheder, Markus; Hahn, Martin H.; Stelzer, Andreas

    Fast-Chirp FDMA MIMO Radar System Using Range-Division Multiple-Access and Doppler-Division Multiple-Access

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2021

    Erschienen in: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques

  5. Scherhaufl, Martin; Hammer, Florian; Kastl, Christian; Stelzer, Andreas; Pichler-Scheder, Markus

    Viterbi Decoder to Resolve Angular Ambiguity in Digital Beamforming With Widely Spaced Radar Front Ends

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2021

    Erschienen in: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement

  6. Schrattenecker, Jochen O.; Schuster, Stefan; Scheiblhofer, Werner; Reinthaler, Gunther; Ennsbrunner, Helmut; Stelzer, Andreas

    Hardware and Signal Processing for a Novel Multi-Lap-Joint Measurement System for Automated Welding Applications

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2014

    Erschienen in: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement