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Zhang, Xiao-Feng [HerausgeberIn]

Progress in transmission electron microscopy

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 19XX- ; [Beijing]: Tsinghua Univ. Pr., 19XX-

Erschienen in: Springer series in surface sciences ; .
Reimer, Ludwig [VerfasserIn]

Transmission electron microscopy : physics of image formation and microanalysis - [4. ed.]

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1997

Erschienen in: Springer series in optical sciences ; 36.1997
Buseck, Peter R. [HerausgeberIn]; Cowley, J. M. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Eyring, Leroy [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

High-resolution transmission electron microscopy and associated techniques

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New York, NY [u.a.]: Oxford Univ. Press, 1988
Carter, C. Barry [HerausgeberIn]; Williams, David B. [HerausgeberIn]; Thomas, John M. [VerfasserIn eines Vorworts]

Transmission electron microscopy : diffraction, imaging, and spectrometry

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[Cham, Switzerland]: Springer, [2016]
Flegler, Stanley L. [VerfasserIn]; Heckman, John W. [VerfasserIn]; Klomparens, Karen L. [VerfasserIn] ; Heckman, John William [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Scanning and transmission electron microscopy : an introduction

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New York: Freeman, 1993
Spence, John C. H. [VerfasserIn]

High-resolution electron microscopy - [3. ed., 1. publ. in paperback]

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Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Press, 2009

Erschienen in: Monographs on the physics and chemistry of materials ; 60,2009
Spence, John C. H. [VerfasserIn]

High-resolution electron microscopy - [3. ed., repr.]

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Oxford: Oxford University Press, 2004

Erschienen in: Monographs on the physics and chemistry of materials ; 60,2004
Reimer, Ludwig [VerfasserIn]

Transmission electron microscopy : physics of image formation and microanalysis - [3. ed.]

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1993

Erschienen in: Springer series in optical sciences ; 36.1993
Williams, David B. [VerfasserIn]; Carter, C. Barry [VerfasserIn]

Transmission electron microscopy : a textbook for materials science - [2. ed.]

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New York [u.a.]: Springer, 2009-
Williams, David B. [VerfasserIn]; Carter, C. Barry [VerfasserIn]

Transmission electron microscopy : a textbook for materials science - [2. ed.]

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New York: Springer, 2009
Williams, David B. [VerfasserIn]; Carter, C. Barry [VerfasserIn]

Transmission electron microscopy : a textbook for materials science

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New York, NY [u.a.]: Plenum Press, 1996
Goodhew, Peter J. [VerfasserIn]

Specimen preparation for transmission electron microscopy of materials

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Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Pr. [u.a.], 1984

Erschienen in: Microscopy handbooks ; 3
Hunter, Elaine E. [VerfasserIn] ; Bendayan, Moise [HerausgeberIn]; Maloney, Peter [HerausgeberIn]

Practical electron microscopy : a beginner's illustrated guide - [2. ed.]

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Cambridge [u.a.]: Cambridge University Press, 1993
Thomas, Jürgen [VerfasserIn]; Gemming, Thomas [VerfasserIn]

Analytical transmission electron microscopy : an introduction for operators

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Dordrecht; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2014
Erni, Rolf [VerfasserIn]

Aberration-corrected imaging in transmission electron microscopy : an introduction

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London: Imperial College Pr., 2010
Reimer, Ludwig [HerausgeberIn]; Deininger, Christine [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Energy-filtering transmission electron microscopy

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1995

Erschienen in: Springer series in optical sciences ; 71
Rosenauer, Andreas [VerfasserIn]

Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures : an analysis of composition and strain state

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2003

Erschienen in: Springer tracts in modern physics ; 182
Glauert, Audrey M. [VerfasserIn]; Lewis, Peter R. [VerfasserIn]

Biological specimen preparation for transmission electron microscopy

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London: Portland Press, 1998

Erschienen in: Practical methods in electron microscopy ; 1700
Chescoe, Dawn [VerfasserIn] ; Goodhew, Peter J. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

The operation of transmission and scanning electron microscopes

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Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Press, 1990

Erschienen in: Microscopy handbooks ; 20
Buseck, Peter R. [HerausgeberIn]; Cowley, J. M. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Eyring, Leroy [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

High-resolution transmission electron microscopy and associated techniques

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New York [u.a.]: Oxford Univ. Press, 1992

Erschienen in: Oxford science publications

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