%0
Generic
%T
Modeling of Leakage Currents in High-k Dielectrics for Future DRAM Application
%A Popescu, Dan Horia
%A Lugli, Paolo
%A Kreupl, Franz
%I Universitätsbibliothek der TU München
%K ELT Elektrotechnik
%K Hochschulschrift
%D 2015
%C Universitätsbibliothek der TU München
%C München
%U http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2