TY - BOOK
AU - Thoben, Markus
TI - Zuverlässigkeit von großflächigen Verbindungen in der Leistungselektronik ein Beitrag zum "Design for Reliability"
ET - Als Ms. gedr.
PB - VDI-Verl.
SN - 3183363097
KW - Hochschulschrift
KW - Leistungselektronik
KW - Elektronisches Bauelement
KW - Zuverlässigkeit
KW - Lötverbindung
KW - Thermische Ermüdung
KW - Lebensdauer
PY - 2002
N2 - Literaturverz. S. 187 - 199
BT - Fortschritt-Berichte VDI ; Reihe 9, Elektronik, Mikro- und Nanotechnik ; 363
BT - Berichte des Instituts für elektrische Antriebe, Leistungselektronik und Bauelemente der Universität Bremen
CY - Düsseldorf
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -
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