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Brand, Uwe; Beckert, Erik; Beutler, Andreas; Dai, Gaoliang; Stelzer, Christian; Hertwig, Andreas; Klapetek, Petr; Koglin, Jürgen; Thelen, Richard; Tutsch, RainerComparison of optical and tactile layer thickness measurements of polymers and metals on silicon or SiO2Online ansehenSchließen
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Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.IOP Publishing, 2011
Erschienen in: Measurement Science and Technology
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Aad, Georges; Abbott, Brad; Abbott, Dale Charles; Abed Abud, Adam; Abeling, Kira; Abhayasinghe, Deshan Kavishka; Abidi, Syed Haider; Aboulhorma, Asmaa; Abramowicz, Halina; Abreu, Henso; Abulaiti, Yiming; Abusleme Hoffman, Angel Christian; Acharya, Bobby Samir; Achkar, Baida; Adam, Lennart; Adam Bourdarios, Claire; Adamczyk, Leszek; Adamek, Lukas; Addepalli, Sagar Vidya; Adelman, Jahred; Adiguzel, Aytul; Adorni, Sofia; Adye, Tim; Affolder, Anthony Allen; [...]Operation and performance of the ATLAS semiconductor tracker in LHC Run 2Online ansehenSchließen
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Erschienen in: Journal of Instrumentation