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Zolotoyabko, Emil [VerfasserIn]

Basic concepts of X-ray diffraction

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Weinheim: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, [2014]
European Symposium X-Ray Topography and High Resolution Diffraction 2 1994 Berlin, Humboldt-Universität zu Berlin

2nd European Symposium X-Ray Topography and High Resolution Diffraction : programme and abstracts; Berlin, Germany, 5 - 7 September 1994

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Berlin: Humboldt-Univ., [1994]
Herres, Nikolaus [BearbeiterIn] ; Arbeitskreis Röntgentopographie

Proceedings / Arbeitskreis Röntgentopographie : Sitzung in Clausthal am 27./28. Sept. 1980; (Röto '90)

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Freiburg: Arbeitskreis Röntgentopographie, [1980]
Spieß, Lothar [VerfasserIn]; Teichert, Gerd [VerfasserIn]; Schwarzer, Robert [VerfasserIn]; Behnken, Herfried [VerfasserIn]; Genzel, Christoph [VerfasserIn]

Moderne Röntgenbeugung : Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker - [3., überarbeitete Auflage]

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Wiesbaden; [Heidelberg]: Springer Spektrum, [2019]
Authier, André [VerfasserIn]

Dynamical theory of x-ray diffraction - [rev. ed., repr. (with corrections)]

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Oxford [u.a.]: Oxford University Press, 2005

Erschienen in: Internationale Union für Kristallographie: IUCr monographs on crystallography ; 11
James, Reginald W. [VerfasserIn]

The Optical principles of the diffraction of x-rays - [Repr.]

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London: Bell & Sons, 1958

Erschienen in: Crystalline state ; 2
Laue, Max von [VerfasserIn]

Röntgenwellenfelder in Kristallen

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Berlin: Akad.-Verl., 1959

Erschienen in: Deutsche Akademie der Wissenschaften: Sitzungsberichte der Deutschen Akademie der Wissenschaften zu Berlin, Klasse für Mathematik, Physik und Technik ; 1959,1
Laue, Max von [VerfasserIn]

Die Interferenz der Röntgenstrahlen

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Leipzig: Akad. Verlagsges., 1923

Erschienen in: Ostwald's Klassiker der exakten Wissenschaften ; 204
Bowen, David Keith [VerfasserIn]; Tanner, Brian K. [VerfasserIn]

High resolution X-ray diffractometry and topography

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London [u.a.]: Taylor & Francis, 1998
Greenberg, Joel [HerausgeberIn]; Iniewski, Krzysztof [HerausgeberIn]

X-Ray diffraction imaging : technology and applications - [First issued in paperback]

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Boca Raton; London; New York: CRC Press, Taylor & Francis Group, 2021

Erschienen in: Devices, circuits, and systems
Spieß, Lothar [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Schwarzer, Robert [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Behnken, Herfried [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Teichert, Gerd [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Moderne Röntgenbeugung : Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker - [1. Aufl.]

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Wiesbaden: Teubner, 2005

Erschienen in: Teubner Lehrbuch Physik
Authier, André [VerfasserIn]

Dynamical theory of X-ray diffraction - [Reprint.]

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Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Pr., 2002

Erschienen in: Internationale Union für Kristallographie: IUCr monographs on crystallography ; 11,2002
Collazo López, Jorge Abilio [VerfasserIn]

Mikroabsorption von Röntgenstrahlen in Pulvern

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1999
Brusch, Gilbert [VerfasserIn] ; Berliner Neutronenstreu-Center

Entwicklung eines Meß- und Auswertungsverfahrens zur Analyse von Eigenspannungsverteilungen mit Hochenergie-Röntgenbeugung

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Berlin: HMI, 1998

Erschienen in: Hahn-Meitner-Institut: HMI-Berichte ; 550
Proceedings of the Second European Powder Diffraction Conference / 2

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Zürich: Trans Tech Publ., 1993

Erschienen in: Proceedings of the Second European Powder Diffraction Conference / EPDIC 2. Ed.: R. Delhez .. ; 2 - Materials science forum ; 133/136,2
Proceedings of the Second European Powder Diffraction Conference / 1

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Zürich: Trans Tech Publ., 1993

Erschienen in: Proceedings of the Second European Powder Diffraction Conference / EPDIC 2. Ed.: R. Delhez .. ; 1 - Materials science forum ; 133/136,1
Cowley, J. M. [VerfasserIn]

Diffraction physics - [2., rev. ed., 4. print. (pp.) (with minor corr.)]

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Amsterdam [u.a.]: North-Holland, 1990

Erschienen in: North-Holland personal library
Steeb, Siegfried [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Bartz, Wilfried J. [HerausgeberIn]

Röntgen- und Elektronenbeugung : Grundlagen und Anwendungen in der Rohstoff- und Produktkontrolle

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Sindelfingen: expert-Verlag, 1985

Erschienen in: Kontakt & Studium ; 144
Cowley, J. M. [VerfasserIn]

Diffraction physics - [2., rev. ed]

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Amsterdam [u.a.]: North-Holland, 1981

Erschienen in: North-Holland personal library
Milʹburn, G. H. W. [VerfasserIn] ; Milburn, G. H. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Rentgenovskaja kristallografija

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Moskva: Izd. Mir., 1975

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