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Medientyp: Buch Titel: High resolution X-ray diffractometry and topography Beteiligte: Bowen, David Keith [VerfasserIn]; Tanner, Brian K. [VerfasserIn] Erschienen: London [u.a.]: Taylor & Francis, 1998 Umfang: X, 252 S; Ill., graph. Darst Sprache: Englisch ISBN: 0850667585 RVK-Notation: UQ 5100 : Lehrbücher der Kristallstrukturbestimmung und Röntgenographie Schlagwörter: Röntgendiffraktometrie > Röntgentopographie > Hochauflösendes Verfahren Röntgendiffraktometrie Entstehung: Anmerkungen: Literaturangaben