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  1. Webster, John G. [HerausgeberIn]

    Tactile sensors for robotics and medicine

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    New York [u.a.]: Wiley, 1988

    Erschienen in: A Wiley-Interscience publication

  2. Kleine-Besten, Thomas [VerfasserIn] ; Physikalisch-Technische Bundesanstalt Abteilung Fertigungsmesstechnik

    Messung dreidimensionaler Mikrostrukturen

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    Bremerhaven: Wirtschaftsverl. NW, Verl. für neue Wissenschaft, 2001

    Erschienen in: PTB-Bericht ; 41

  3. Wu, Yiting [VerfasserIn] ; Hausotte, Tino [AkademischeR BetreuerIn]; Hausotte, Tino [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Manske, Eberhard [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Franke, Jörg [HerausgeberIn]; Hanenkamp, Nico [HerausgeberIn]; Hausotte, Tino [HerausgeberIn]; Merklein, Marion [HerausgeberIn]; Schmidt, Michael [HerausgeberIn]; Wartzack, Sandro [HerausgeberIn] FAU University Press ein Imprint der Universität Erlangen-Nürnberg Universitätsbibliothek

    Großflächige Topographiemessungen mit einem Weißlichtinterferenzmikroskop und einem metrologischen Rasterkraftmikroskop

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    Erlangen: FAU University Press, 2022

    Erschienen in: FAU Studien aus dem Maschinenbau ; 390

  4. Mastylo, Rostyslav [VerfasserIn]

    Optische und taktile Nanosensoren auf der Grundlage des Fokusverfahrens für die Anwendung in Nanopositionier- und Nanomessmaschinen

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    Ilmenau: Universitätsbibliothek Ilmenau, 2012

  5. Kusnezowa, Tatjana [VerfasserIn] ; Seewig, Jörg [AkademischeR BetreuerIn]

    Möglichkeiten und Herausforderungen bei der taktilen 2D Rauheitsmessung auf Konturen

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    Kaiserslautern: Technische Universität Kaiserslautern, 2017

    Erschienen in: Berichte aus dem Lehrstuhl für Messtechnik und Sensorik ; 5

  6. DIN-Normenausschuss Feinmechanik und Optik (NAFuO), Optics and Precision Mechanics Standards Committee, DIN Deutsches Institut für Normung e. V., DIN German Institute for Standardization

    DIN 32567-4 : Fertigungsmittel für Mikrosysteme - Ermittlung von Materialeinflüssen auf die optische und taktile dimensionelle Messtechnik - Teil 4: Prüfkörper für optische Verfahren - [2015-06-00]

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    Berlin, Wien, Zürich: Beuth Verlag, 2015

    Erschienen in: DIN-Regelwerk- Deutsche Normen

  7. DIN-Normenausschuss Feinmechanik und Optik (NAFuO), Optics and Precision Mechanics Standards Committee, DIN Deutsches Institut für Normung e. V., DIN German Institute for Standardization

    DIN 32567-2 : Fertigungsmittel für Mikrosysteme - Ermittlung von Materialeinflüssen auf die optische und taktile dimensionelle Messtechnik - Teil 2: Prüfkörper für taktile Verfahren - [2014-10-00]

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    Berlin, Wien, Zürich: Beuth Verlag, 2014

    Erschienen in: DIN-Regelwerk- Deutsche Normen

  8. DIN-Normenausschuss Feinmechanik und Optik (NAFuO), Optics and Precision Mechanics Standards Committee, DIN Deutsches Institut für Normung e. V., DIN German Institute for Standardization

    DIN 32567-3 : Fertigungsmittel für Mikrosysteme - Ermittlung von Materialeinflüssen auf die optische und taktile dimensionelle Messtechnik - Teil 3: Ableitung von Korrekturwerten für taktile Messgeräte - [2014-10-00]

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    Berlin, Wien, Zürich: Beuth Verlag, 2014

    Erschienen in: DIN-Regelwerk- Deutsche Normen

  9. DIN-Normenausschuss Feinmechanik und Optik (NAFuO), Optics and Precision Mechanics Standards Committee, DIN Deutsches Institut für Normung e. V., DIN German Institute for Standardization

    DIN 32567-1 : Fertigungsmittel für Mikrosysteme - Ermittlung von Materialeinflüssen auf die optische und taktile dimensionelle Messtechnik - Teil 1: Qualitative Abschätzung der material- und verfahrensspezifischen Einflüsse - [2015-06-00]

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    Berlin, Wien, Zürich: Beuth Verlag, 2015

    Erschienen in: DIN-Regelwerk- Deutsche Normen

  10. DIN-Normenausschuss Feinmechanik und Optik (NAFuO), Optics and Precision Mechanics Standards Committee, DIN Deutsches Institut für Normung e. V., DIN German Institute for Standardization

    DIN 32567-5 : Fertigungsmittel für Mikrosysteme - Ermittlung von Materialeinflüssen auf die optische und taktile dimensionelle Messtechnik - Teil 5: Ableitung von Korrekturwerten für optische Messgeräte - [2015-06-00]

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    Berlin, Wien, Zürich: Beuth Verlag, 2015

    Erschienen in: DIN-Regelwerk- Deutsche Normen