Zum Inhalt springen Ayers, John E; Kujofsa, Tedi; Raphael, Johanna; Islam, Md Tanvirul; Wales, James; Lindstrom, Kevin; Song, Yifei (Invited) Recent Advances in the Modeling of Strain Relaxation and Dislocation Dynamics in ZnSSe/GaAs (001) Heterostructures Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. The Electrochemical Society, 2020 Erschienen in: ECS Meeting Abstracts Kujofsa, Tedi; Cheruku, Sushma; Sidoti, David; Xhurxhi, Sirjan; Obst, Francis; Correa, Juan P.; Bertoli, Brandon; Rago, Paul B.; Suarez, Ernesto N.; Jain, Faquir C.; Ayers, John E. Apparent critical layer thickness in ZnSe/GaAs (001) heterostructures and the role of finite experimental resolution Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. American Vacuum Society, 2016 Erschienen in: Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena
Ayers, John E; Kujofsa, Tedi; Raphael, Johanna; Islam, Md Tanvirul; Wales, James; Lindstrom, Kevin; Song, Yifei (Invited) Recent Advances in the Modeling of Strain Relaxation and Dislocation Dynamics in ZnSSe/GaAs (001) Heterostructures Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. The Electrochemical Society, 2020 Erschienen in: ECS Meeting Abstracts
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Kujofsa, Tedi; Cheruku, Sushma; Sidoti, David; Xhurxhi, Sirjan; Obst, Francis; Correa, Juan P.; Bertoli, Brandon; Rago, Paul B.; Suarez, Ernesto N.; Jain, Faquir C.; Ayers, John E. Apparent critical layer thickness in ZnSe/GaAs (001) heterostructures and the role of finite experimental resolution Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. American Vacuum Society, 2016 Erschienen in: Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena
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> Medientyp Skip to next facet Aufsätze (21) Wert ausschließen Bücher (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Verfügbarkeit Skip to next facet Freihand verfügbar (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Standort Skip to next facet Bereichsbibliothek DrePunct (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Zugangsstatus Skip to next facet Freier Zugang (10) Wert ausschließen Ohne Angabe (11) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Sprache Skip to next facet Nicht zu entscheiden (13) Wert ausschließen Englisch (9) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Fachgebiet Skip to next facet Physik (12) Wert ausschließen Technik (12) Wert ausschließen Chemie und Pharmazie (11) Wert ausschließen Mathematik (10) Wert ausschließen Allgemeines (4) Wert ausschließen Biologie (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Person/Institution Skip to next facet Kujofsa, Tedi (22) Wert ausschließen Ayers, John E (12) Wert ausschließen Ayers, John E. (8) Wert ausschließen Islam, Md Tanvirul (4) Wert ausschließen Raphael, Johanna (4) Wert ausschließen Song, Yifei (4) Wert ausschließen Ayers, J. E. (1) Wert ausschließen Ayers, John (1) Wert ausschließen Bertoli, Brandon (1) Wert ausschließen Chen, Xinkang (1) Wert ausschließen Cheruku, Sushma (1) Wert ausschließen Correa, Juan P. (1) Wert ausschließen Jain, Faquir C. (1) Wert ausschließen Lindstrom, Kevin (1) Wert ausschließen Obst, Francis (1) Wert ausschließen Rago, Paul (1) Wert ausschließen Rago, Paul B. (1) Wert ausschließen Raphael, Johanna E. (1) Wert ausschließen Sidoti, David (1) Wert ausschließen Suarez, Ernesto N. (1) Wert ausschließen Wales, James (1) Wert ausschließen Xhurxhi, Sirjan (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Kollektion Skip to next facet The Electrochemical Society (CrossRef) (10) Wert ausschließen Springer Science and Business Media LLC (CrossRef) (5) Wert ausschließen American Vacuum Society (CrossRef) (3) Wert ausschließen IOP Publishing (CrossRef) (3) Wert ausschließen Verbunddaten SWB (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen