Zum Inhalt springen Mäkitalo, Niko; Flores-Martin, Daniel; Flores, Huber; Lagerspetz, Eemil; Christophe, Francois; Ihantola, Petri; Babazadeh, Masiar; Hui, Pan; Murillo, Juan Manuel; Tarkoma, Sasu; Mikkonen, Tommi Human Data Model : Improving Programmability of Health and Well-Being Data for Enhanced Perception and Interaction : Improving Programmability of Health and Well-Being Data for Enhanced Perception and Interaction Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Association for Computing Machinery (ACM), 2020 Erschienen in: ACM Transactions on Computing for Healthcare Motlagh, Naser Hossein; Lagerspetz, Eemil; Nurmi, Petteri; Li, Xin; Varjonen, Samu; Mineraud, Julien; Siekkinen, Matti; Rebeiro-Hargrave, Andrew; Hussein, Tareq; Petaja, Tuukka; Kulmala, Markku; Tarkoma, Sasu Toward Massive Scale Air Quality Monitoring Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2020 Erschienen in: IEEE Communications Magazine
Mäkitalo, Niko; Flores-Martin, Daniel; Flores, Huber; Lagerspetz, Eemil; Christophe, Francois; Ihantola, Petri; Babazadeh, Masiar; Hui, Pan; Murillo, Juan Manuel; Tarkoma, Sasu; Mikkonen, Tommi Human Data Model : Improving Programmability of Health and Well-Being Data for Enhanced Perception and Interaction : Improving Programmability of Health and Well-Being Data for Enhanced Perception and Interaction Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Association for Computing Machinery (ACM), 2020 Erschienen in: ACM Transactions on Computing for Healthcare
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Motlagh, Naser Hossein; Lagerspetz, Eemil; Nurmi, Petteri; Li, Xin; Varjonen, Samu; Mineraud, Julien; Siekkinen, Matti; Rebeiro-Hargrave, Andrew; Hussein, Tareq; Petaja, Tuukka; Kulmala, Markku; Tarkoma, Sasu Toward Massive Scale Air Quality Monitoring Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2020 Erschienen in: IEEE Communications Magazine
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> Medientyp Skip to next facet Aufsätze (20) Wert ausschließen Bücher (2) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Verfügbarkeit Skip to next facet Verfügbarkeit vor Ort erfragen (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Standort Skip to next facet Zentralbibliothek (1) Wert ausschließen Bereichsbibliothek DrePunct (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Zugangsstatus Skip to next facet Freier Zugang (4) Wert ausschließen Ohne Angabe (17) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Sprache Skip to next facet Englisch (12) Wert ausschließen Nicht zu entscheiden (10) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Fachgebiet Skip to next facet Informatik (14) Wert ausschließen Mathematik (8) Wert ausschließen Technik (8) Wert ausschließen Physik (4) Wert ausschließen Medizin (2) Wert ausschließen Allgemeine Naturwissenschaft (1) Wert ausschließen Biologie (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Person/Institution Skip to next facet Lagerspetz, Eemil (22) Wert ausschließen Tarkoma, Sasu (17) Wert ausschließen Nurmi, Petteri (14) Wert ausschließen Flores, Huber (6) Wert ausschließen Hui, Pan (3) Wert ausschließen Li, Xin (3) Wert ausschließen Li, Yong (3) Wert ausschließen Peltonen, Ella (3) Wert ausschließen Siekkinen, Matti (3) Wert ausschließen Hamberg, Jonatan (2) Wert ausschließen Mineraud, Julien (2) Wert ausschließen Motlagh, Naser Hossein (2) Wert ausschließen Varjonen, Samu (2) Wert ausschließen Xiao, Yu (2) Wert ausschließen Zuniga, Agustin (2) Wert ausschließen Andersson, Mikael (1) Wert ausschließen Aula, Kasimir (1) Wert ausschließen Babazadeh, Masiar (1) Wert ausschließen Cao, Hancheng (1) Wert ausschließen Christophe, Francois (1) Wert ausschließen Concas, Francesco (1) Wert ausschließen Davies, Nigel (1) Wert ausschließen Fan, Yali (1) Wert ausschließen Ferreira, Denzil (1) Wert ausschließen Flores-Martin, Daniel (1) Wert ausschließen Haukka, Jari (1) Wert ausschließen Helal, Sumi (1) Wert ausschließen Honkela, Antti (1) Wert ausschließen Hussein, Tareq (1) Wert ausschließen Ihantola, Petri (1) Wert ausschließen Irjala, Matti (1) Wert ausschließen Jälkö, Joonas (1) Wert ausschließen Kaski, Samuel (1) Wert ausschließen Kostakos, Vassilis (1) Wert ausschließen Kukkonen, Joonas (1) Wert ausschließen Kulmala, Markku (1) Wert ausschließen Lau, Sian Lun (1) Wert ausschließen Li, Tong (1) Wert ausschließen Liu, Xiaoli (1) Wert ausschließen Malmivirta, Titti (1) Wert ausschließen Manner, Jukka (1) Wert ausschließen Martin, Miquel (1) Wert ausschließen Mikkonen, Tommi (1) Wert ausschließen Millerat, Jean (1) Wert ausschließen Murillo, Juan Manuel (1) Wert ausschließen Mäkitalo, Niko (1) Wert ausschließen Opoku Asare, Kennedy (1) Wert ausschließen Ott, Jörg (1) Wert ausschließen Petaja, Tuukka (1) Wert ausschließen Poortinga, Remco (1) Wert ausschließen Puolamäki, Kai (1) Wert ausschließen Rantala, Valtteri (1) Wert ausschließen Rebeiro-Hargrave, Andrew (1) Wert ausschließen Rothenberg, Christian Esteve (1) Wert ausschließen Salden, Alfons (1) Wert ausschließen Sigg, Stephan (1) Wert ausschließen Su, Xiang (1) Wert ausschließen Suomela, Jukka (1) Wert ausschließen Sutterer, Michael (1) Wert ausschließen Terhorst, Yannik (1) Wert ausschließen Tonetto, Leonardo (1) Wert ausschließen Tu, Zhen (1) Wert ausschließen Vega, Julio (1) Wert ausschließen Vo, Huy T. (1) Wert ausschließen Yi Ding, Aaron (1) Wert ausschließen Zeidan, Ayman (1) Wert ausschließen Zhang, Mingyang (1) Wert ausschließen Zhao, Kai (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Kollektion Skip to next facet Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (CrossRef) (9) Wert ausschließen Association for Computing Machinery (ACM) (CrossRef) (6) Wert ausschließen Springer Science and Business Media LLC (CrossRef) (2) Wert ausschließen Verbunddaten SWB (2) Wert ausschließen Elsevier BV (CrossRef) (1) Wert ausschließen JMIR Publications Inc. (CrossRef) (1) Wert ausschließen Springer Berlin Heidelberg (CrossRef) (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen