Zum Inhalt springen Wollnik, Hermann [VerfasserIn] Optics of charged particles - [Second edition] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. San Diego, CA: Academic Press, imprint of Elsevier, [2022] Müller, Eric [VerfasserIn] ; Technische Universität Dresden Electron energy-loss spectroscopy on transition-metal dichalcogenides and α-RuCl3 Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Dresden: Technische Universität Dresden, [2018] Spence, John C. H. [VerfasserIn] High-resolution electron microscopy - [Fourth edition, first published in paperback] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Oxford: Oxford University Press, 2017 Egerton, Ray [VerfasserIn] Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM and AEM - [Second edition] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. [Cham]: Springer Interantional Publishing, [2016] Surrey, Alexander [VerfasserIn] ; Technische Universität Dresden Preparation and characterization of nanoscopic solid state hydrogen storage materials Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Aachen: Shaker Verlag, 2016 Erschienen in: Schriftenreihe der Reiner Lemoine-Stiftung Carter, C. Barry [HerausgeberIn]; Williams, David B. [HerausgeberIn]; Thomas, John M. [VerfasserIn eines Vorworts] Transmission electron microscopy : diffraction, imaging, and spectrometry Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. [Cham, Switzerland]: Springer, [2016] Advances in imaging and electron physics / 181 - [1. ed.] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. 2014 Erschienen in: Advances in imaging and electron physics ; 2014,181 Thomas, Jürgen [VerfasserIn]; Gemming, Thomas [VerfasserIn] Analytical transmission electron microscopy : an introduction for operators Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Dordrecht; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2014 Sickmann, Jan [VerfasserIn] Ortsaufgelöste Messung der Gitterverspannungen in Halbleitern mittels Dunkelfeld off-axis Elektronenholographie Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. 2014 Thomas, Jürgen [VerfasserIn]; Gemming, Thomas [VerfasserIn] Analytische Transmissionselektronenmikroskopie : eine Einführung für den Praktiker Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Wien; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2013 Roth, Friedrich [VerfasserIn] Electronic structure of selected aromatic hydrocarbon systems investigated with electron energy-loss spectroscopy Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. 2013 Bell, David C. [HerausgeberIn]; Erdman, Natasha [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Royal Microscopical Society Großbritannien Low voltage electron microscopy : principles and applications - [1. publ.] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Chichester: Wiley, 2013 ; [London]: RMS, 2013 Röder, Falk [VerfasserIn] Off-Axis Elektronenholographie elastisch und unelastisch gestreuter Elektronen Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. 2013 Fultz, Brent [VerfasserIn]; Howe, James M. [VerfasserIn] ; Howe, James [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Transmission electron microscopy and diffractometry of materials - [4. ed.] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2013 Erschienen in: Graduate texts in physics Dehm, Gerhard [HerausgeberIn]; Howe, James M. [HerausgeberIn]; Zweck, Josef [HerausgeberIn] In-situ electron microscopy : applications in physics, chemistry and materials science Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Weinheim: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, [2012] Schattschneider, Peter [VerfasserIn] Linear and chiral dichroism in the electron microscope Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Singapore: Pan Stanford Publ., c 2012 Brydson, Rik [HerausgeberIn] ; Royal Microscopical Society Großbritannien, Royal Microscopical Society Großbritannien Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Chichester: Wiley, 2011 Erschienen in: RMS-Wiley imprint Wolf, Daniel [VerfasserIn] Elektronen-Holographische Tomographie zur 3D-Abbildung von elektrostatischen Potentialen in Nanostrukturen Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. 2011 Pennycook, Stephen J. [HerausgeberIn]; Nellist, Peter D. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Scanning transmission electron microscopy : imaging and analysis Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. New York, NY; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2011 Zewail, Ahmed H. [VerfasserIn]; Thomas, John M. [VerfasserIn] 4D electron microscopy : imaging in space and time Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. London: Imperial College Press, 2010 ; Singapore [u.a.]: World Scientific, 2010
Wollnik, Hermann [VerfasserIn] Optics of charged particles - [Second edition] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. San Diego, CA: Academic Press, imprint of Elsevier, [2022]
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Müller, Eric [VerfasserIn] ; Technische Universität Dresden Electron energy-loss spectroscopy on transition-metal dichalcogenides and α-RuCl3 Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Dresden: Technische Universität Dresden, [2018]
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Spence, John C. H. [VerfasserIn] High-resolution electron microscopy - [Fourth edition, first published in paperback] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Oxford: Oxford University Press, 2017
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Egerton, Ray [VerfasserIn] Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM and AEM - [Second edition] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. [Cham]: Springer Interantional Publishing, [2016]
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Surrey, Alexander [VerfasserIn] ; Technische Universität Dresden Preparation and characterization of nanoscopic solid state hydrogen storage materials Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Aachen: Shaker Verlag, 2016 Erschienen in: Schriftenreihe der Reiner Lemoine-Stiftung
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Carter, C. Barry [HerausgeberIn]; Williams, David B. [HerausgeberIn]; Thomas, John M. [VerfasserIn eines Vorworts] Transmission electron microscopy : diffraction, imaging, and spectrometry Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. [Cham, Switzerland]: Springer, [2016]
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Advances in imaging and electron physics / 181 - [1. ed.] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. 2014 Erschienen in: Advances in imaging and electron physics ; 2014,181
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Thomas, Jürgen [VerfasserIn]; Gemming, Thomas [VerfasserIn] Analytical transmission electron microscopy : an introduction for operators Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Dordrecht; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2014
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Sickmann, Jan [VerfasserIn] Ortsaufgelöste Messung der Gitterverspannungen in Halbleitern mittels Dunkelfeld off-axis Elektronenholographie Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. 2014
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Thomas, Jürgen [VerfasserIn]; Gemming, Thomas [VerfasserIn] Analytische Transmissionselektronenmikroskopie : eine Einführung für den Praktiker Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Wien; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2013
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Roth, Friedrich [VerfasserIn] Electronic structure of selected aromatic hydrocarbon systems investigated with electron energy-loss spectroscopy Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. 2013
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Bell, David C. [HerausgeberIn]; Erdman, Natasha [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Royal Microscopical Society Großbritannien Low voltage electron microscopy : principles and applications - [1. publ.] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Chichester: Wiley, 2013 ; [London]: RMS, 2013
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Röder, Falk [VerfasserIn] Off-Axis Elektronenholographie elastisch und unelastisch gestreuter Elektronen Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. 2013
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Fultz, Brent [VerfasserIn]; Howe, James M. [VerfasserIn] ; Howe, James [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Transmission electron microscopy and diffractometry of materials - [4. ed.] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2013 Erschienen in: Graduate texts in physics
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Dehm, Gerhard [HerausgeberIn]; Howe, James M. [HerausgeberIn]; Zweck, Josef [HerausgeberIn] In-situ electron microscopy : applications in physics, chemistry and materials science Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Weinheim: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, [2012]
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Schattschneider, Peter [VerfasserIn] Linear and chiral dichroism in the electron microscope Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Singapore: Pan Stanford Publ., c 2012
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Brydson, Rik [HerausgeberIn] ; Royal Microscopical Society Großbritannien, Royal Microscopical Society Großbritannien Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Chichester: Wiley, 2011 Erschienen in: RMS-Wiley imprint
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Wolf, Daniel [VerfasserIn] Elektronen-Holographische Tomographie zur 3D-Abbildung von elektrostatischen Potentialen in Nanostrukturen Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. 2011
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Pennycook, Stephen J. [HerausgeberIn]; Nellist, Peter D. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Scanning transmission electron microscopy : imaging and analysis Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. New York, NY; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2011
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Zewail, Ahmed H. [VerfasserIn]; Thomas, John M. [VerfasserIn] 4D electron microscopy : imaging in space and time Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. London: Imperial College Press, 2010 ; Singapore [u.a.]: World Scientific, 2010
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> Medientyp Skip to next facet Bücher (307) Wert ausschließen Zeitschriften / Zeitungen / Schriftenreihen (2) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Verfügbarkeit Skip to next facet Freihand verfügbar (181) Wert ausschließen Magazinbestellung (116) Wert ausschließen Verfügbarkeit vor Ort erfragen (74) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Standort Skip to next facet Zentralbibliothek (255) Wert ausschließen Bereichsbibliothek DrePunct (64) Wert ausschließen Zweigbibliothek Forstwissenschaft (27) Wert ausschließen Zweigbibliothek Medizin (26) Wert ausschließen Bestand der TU Dresden (12) Wert ausschließen in Transfer (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Rechte-/Nutzungshinweis Skip to next facet Urheberrechtsschutz (8) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Zugangsstatus Skip to next facet Freier Zugang (19) Wert ausschließen Ohne Angabe (7) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Sprache Skip to next facet Englisch (203) Wert ausschließen Deutsch (93) Wert ausschließen Nicht zu entscheiden (15) Wert ausschließen Französisch (5) Wert ausschließen Russisch (2) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Fachgebiet Skip to next facet Physik (309) Wert ausschließen Biologie (100) Wert ausschließen Allgemeine Naturwissenschaft (82) Wert ausschließen Technik (64) Wert ausschließen Chemie und Pharmazie (45) Wert ausschließen Geologie und Paläontologie (6) Wert ausschließen Medizin (5) Wert ausschließen Allgemeines (1) Wert ausschließen Informatik (1) Wert ausschließen Musikwissenschaft (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Person/Institution Skip to next facet Goodhew, Peter J. (10) Wert ausschließen Reimer, Ludwig (10) Wert ausschließen Hawkes, Peter W. (8) Wert ausschließen Williams, David B. (8) Wert ausschließen Carter, C. Barry (7) Wert ausschließen Alderson, Ronald H. (5) Wert ausschließen Echlin, Patrick (5) Wert ausschließen Egerton, Ray (5) Wert ausschließen Heydenreich, Johannes (5) Wert ausschließen Joy, David C. (5) Wert ausschließen Picht, Johannes (5) Wert ausschließen Chescoe, Dawn (4) Wert ausschließen Goldstein, Joseph I. (4) Wert ausschließen Howe, James M. (4) Wert ausschließen Kasper, Erwin (4) Wert ausschließen Markham, Roy (4) Wert ausschließen Royal Microscopical Society Großbritannien (4) Wert ausschließen Spence, John C. H. (4) Wert ausschließen Agar, Alan W. (3) Wert ausschließen Beeston, B. E. P. (3) Wert ausschließen Berndt, Markus (3) Wert ausschließen Bethge, Heinz (3) Wert ausschließen Borries, Bodo von (3) Wert ausschließen Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (3) Wert ausschließen Fultz, Brent (3) Wert ausschließen Gemming, Thomas (3) Wert ausschließen Goldstein, Joseph (3) Wert ausschließen Horne, Robert W. (3) Wert ausschließen Lifshin, Eric (3) Wert ausschließen Lubk, Axel (3) Wert ausschließen Newbury, Dale E. (3) Wert ausschließen Roth, Friedrich (3) Wert ausschließen Sickmann, Jan (3) Wert ausschließen Surrey, Alexander (3) Wert ausschließen Technische Universität Dresden (3) Wert ausschließen Wahl, Reiner (3) Wert ausschließen Wolf, Daniel (3) Wert ausschließen Allgemeine Elektricitäts-Gesellschaft Forschungs-Institut (2) Wert ausschließen Amelinckx, Severin (2) Wert ausschließen Ardenne, Manfred von (2) Wert ausschließen Buseck, Peter R. (2) Wert ausschließen Cowley, J. M. (2) Wert ausschließen Cross, Patricia M. (2) Wert ausschließen Dehm, Gerhard (2) Wert ausschließen Eckart, Friedrich (2) Wert ausschließen Eyring, Leroy (2) Wert ausschließen Fiori, Charles E. (2) Wert ausschließen Flegler, Stanley L. (2) Wert ausschließen Glauert, Audrey M. (2) Wert ausschließen Hammond, Christopher (2) Wert ausschließen Hearle, John W. S. (2) Wert ausschließen Heckman, John W. (2) Wert ausschließen Heisig, Ullrich (2) Wert ausschließen Holt, David B. (2) Wert ausschließen Hornbogen, Erhard (2) Wert ausschließen Humphreys, F. J. (2) Wert ausschließen Institute of Physics London Electron Microscopy and Analysis Group (2) Wert ausschließen Kirkland, Earl J. (2) Wert ausschließen Klemperer, Otto Ernst (2) Wert ausschließen Klomparens, Karen L. (2) Wert ausschließen LICHTE, HANNES (2) Wert ausschließen Lewis, Peter R. (2) Wert ausschließen Meyer, Rüdiger Reinhard (2) Wert ausschließen Michler, Goerg H. (2) Wert ausschließen Miljutin, V. I. (2) Wert ausschließen Panzer, Siegfried (2) Wert ausschließen Ramsauer, Carl (2) Wert ausschließen Reid, Norma (2) Wert ausschließen Robards, Anthony W. (2) Wert ausschließen Rusterholz, Alexander A. (2) Wert ausschließen Röder, Falk (2) Wert ausschließen Schattschneider, Peter (2) Wert ausschließen Schiller, Siegfried (2) Wert ausschließen Schimmel, Gerhard (2) Wert ausschließen Schulze, Dietrich (2) Wert ausschließen Slayter, Elizabeth M. (2) Wert ausschließen Slayter, Henry S. (2) Wert ausschließen Sparrow, John T. (2) Wert ausschließen Thomas, John M. (2) Wert ausschließen Thomas, Jürgen (2) Wert ausschließen Vainrib, E. A. (2) Wert ausschließen Watt, Ian M. (2) Wert ausschließen Wollnik, Hermann (2) Wert ausschließen Woltersdorf, Jörg (2) Wert ausschließen Ōtsu, Motoichi (2) Wert ausschließen Advanced Research Workshop on Near Field Optics 1992 Arc-et-Senans (1) Wert ausschließen Advanced Study Institute on Forces in Scanning Probe Methods 1994 Schluchsee (1) Wert ausschließen Ahn, C. C. (1) Wert ausschließen Alexander, Helmut (1) Wert ausschließen Anaskin, Ivan Filippovič (1) Wert ausschließen Armstrong, John T. (1) Wert ausschließen Ash, Eric A. (1) Wert ausschließen Bargmann, W. (1) Wert ausschließen Bartsch, Heinz (1) Wert ausschließen Bauer, Hans-Dietrich (1) Wert ausschließen Bauer, Peter (1) Wert ausschließen Beaman, Donald Robert (1) Wert ausschließen Beanland, Richard (1) Wert ausschließen Beeston, Brian Edward Percy (1) Wert ausschließen Bell, David C. (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Kollektion Skip to next facet Verbunddaten SWB (296) Wert ausschließen Diss online (9) Wert ausschließen Lizenzfreie Online-Ressourcen (8) Wert ausschließen Qucosa (8) Wert ausschließen Fachkatalog Technikgeschichte (4) Wert ausschließen Springer ebook collection / Chemistry and Materials Science 2005-2008 (4) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen