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Medientyp: Buch; Hochschulschrift Titel: Ortsaufgelöste Messung der Gitterverspannungen in Halbleitern mittels Dunkelfeld off-axis Elektronenholographie Beteiligte: Sickmann, Jan [VerfasserIn] Erschienen: 2014 Umfang: 170 S.; Ill., graf. Darst Sprache: Deutsch RVK-Notation: UH 6300 : Transmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines Schlagwörter: Hochschulschrift Entstehung: Hochschulschrift: Dresden, Techn. Univ., Fak. Mathematik und Naturwiss., Diss., 2014 Anmerkungen:
Zentralbibliothek – Magazin Signatur: 2015 4 002929 Barcode: 34103439 Status: Bestellen zur Benutzung im Haus, kein Versand per Fernleihe, nur Kopienlieferung > Bestellen möglich - bitte anmelden