> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp: Buch; Konferenzbericht Titel: Defects in Silicon II : proceedings of the Second Symposium on Defects in Silicon; [held at the Washington, DC, May 5 - 10, 1991] Beteiligte: Bullis, W. Murray [Hrsg.] Veranstaltung: Symposium on Defects in Silicon Erschienen: Pennington, NJ: Electrochemical Society, 1991 Erschienen in: Electrochemical Society: Proceedings volume ; 91,9 Umfang: XI, 692 S.; Ill., graph. Darst Sprache: Englisch Schlagwörter: Siliciumbauelement > Werkstofffehler Werkstofffehler > Silicium Entstehung: Anmerkungen: Weitere Bestandsnachweise 0 : Electrochemical Society: Proceedings