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Medientyp: Buch; Hochschulschrift Titel: Analysis of electrically active defects in silicon for solar cells Beteiligte: Roth, Thomas [VerfasserIn] Erschienen: 2008 Umfang: IV, 188 S.; Ill., graph. Darst Sprache: Englisch RVK-Notation: ZN 3460 : Halbleiterwerkstoffe Schlagwörter: Silicium ; Ladungsträger ; Lebensdauer ; Photolumineszenz ; Fotovoltaik ; Defekt ; Hochschulschrift Entstehung: Hochschulschrift: Konstanz, Univ., Diss., 2008 Anmerkungen: