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Medientyp: Buch Titel: Sehen heißt wissen : das Rasterelektronenmikroskop im Fehleranalyselabor Enthält: Literaturangaben Beteiligte: Eckert, Richard [VerfasserIn] Erschienen: Stuttgart: Kurz, 1998 Ausgabe: 1. Aufl. Umfang: 182 S; zahlr. Ill Sprache: Deutsch ISBN: 3893010815 RVK-Notation: UH 6310 : Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines Schlagwörter: Rasterelektronenmikroskop Entstehung: Stuttgart: Kurz Anmerkungen: