> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp: Buch Titel: Electromigration in ULSI interconnections Enthält: Literaturangaben Beteiligte: Tan, Cher Ming [VerfasserIn] Erschienen: New Jersey, NJ [u.a.]: World Scientific, 2010 Erschienen in: International series on advances in solid state electronics and technology Umfang: XIX, 291 S.; Ill., graph. Darst; 24 cm Sprache: Englisch ISBN: 9789814273329; 9814273325 RVK-Notation: ZN 4952 : Schaltungen der Grösstintegration (VLSI; ULSI) Schlagwörter: Integrated circuits Ultra large scale integration ; Electrodiffusion Entstehung: Anmerkungen: The color figures are available online at: http://www.ntu.edu.sg/home/ecmtan/color figures for Electromigration in ULSI Interconnections.pdf
Bestand der TU Dresden Signatur: 2011 8 000687 Barcode: 11284747N Status: Verfügbarkeit bitte in Prof Konstruktion Feinwerktechnik erfragen.