Anger, Sabrina
[VerfasserIn]
;
Niklas, Jürgen R.
[AkademischeR BetreuerIn];
Niklas, Jürgen R.
[Sonstige Person, Familie und Körperschaft];
Wellmann, Peter
[Sonstige Person, Familie und Körperschaft]
Potential and challenges of compound semiconductor characterization by application of non-contacting characterization techniques