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Medientyp: E-Artikel Titel: Electron trapping at SiO2/4H-SiC interface probed by transient capacitance measurements and atomic resolution chemical analysis Beteiligte: Fiorenza, Patrick; Iucolano, Ferdinando; Nicotra, Giuseppe; Bongiorno, Corrado; Deretzis, Ioannis; La Magna, Antonino; Giannazzo, Filippo; Saggio, Mario; Spinella, Corrado; Roccaforte, Fabrizio Erschienen: IOP Publishing, 2018 Erschienen in: Nanotechnology Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1088/1361-6528/aad129 ISSN: 0957-4484; 1361-6528 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Mechanical Engineering ; Mechanics of Materials ; General Materials Science ; General Chemistry ; Bioengineering Entstehung: Anmerkungen: