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Medientyp: E-Artikel Titel: Use of atomic force microscopy (AFM) to explore cell wall properties and response to stress in the yeast Saccharomyces cerevisiae Beteiligte: Francois, Jean Marie; Formosa, Cécile; Schiavone, Marion; Pillet, Flavien; Martin-Yken, Hélène; Dague, Etienne Erschienen: Springer Science and Business Media LLC, 2013 Erschienen in: Current Genetics Sprache: Englisch DOI: 10.1007/s00294-013-0411-0 ISSN: 0172-8083; 1432-0983 Entstehung: Anmerkungen: