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Medientyp: E-Artikel Titel: Characterization of Dislocations in Semiconductor Heterostructures Using X-ray Rocking Curve Pendellösung Beteiligte: Althowibi, Fahad A.; Ayers, John E. Erschienen: Springer Science and Business Media LLC, 2018 Erschienen in: Journal of Electronic Materials Sprache: Englisch DOI: 10.1007/s11664-017-5895-9 ISSN: 0361-5235; 1543-186X Schlagwörter: Materials Chemistry ; Electrical and Electronic Engineering ; Condensed Matter Physics ; Electronic, Optical and Magnetic Materials Entstehung: Anmerkungen: