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Medientyp: E-Artikel Titel: Mapping of the local minority carrier diffusion length in silicon wafers Beteiligte: Stemmer, Michael Erschienen: Elsevier BV, 1993 Erschienen in: Applied Surface Science Sprache: Englisch DOI: 10.1016/0169-4332(93)90092-p ISSN: 0169-4332 Schlagwörter: Surfaces, Coatings and Films ; Condensed Matter Physics ; Surfaces and Interfaces ; General Physics and Astronomy ; General Chemistry Entstehung: Anmerkungen: