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Medientyp: E-Artikel Titel: Methodologies for the Statistical Analysis of Memory Response to Radiation Beteiligte: Bosser, Alexandre L.; Gupta, Viyas; Tsiligiannis, Georgios; Frost, Christopher D.; Zadeh, Ali; Jaatinen, Jukka; Javanainen, Arto; Puchner, Helmut; Saigne, Frederic; Virtanen, Ari; Wrobel, Frederic; Dilillo, Luigi Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2016 Erschienen in: IEEE Transactions on Nuclear Science Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tns.2016.2527781 ISSN: 0018-9499; 1558-1578 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Nuclear Energy and Engineering ; Nuclear and High Energy Physics Entstehung: Anmerkungen: