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Medientyp: E-Artikel Titel: Heavy-Ion Radiation Impact on a 4 Mb FRAM Under Different Test Modes and Conditions Beteiligte: Gupta, Viyas; Bosser, Alexandre; Tsiligiannis, Georgios; Zadeh, Ali; Javanainen, Arto; Virtanen, Ari; Puchner, Helmut; Saigne, Frederic; Wrobel, Frederic; Dilillo, Luigi Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2016 Erschienen in: IEEE Transactions on Nuclear Science Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tns.2016.2559943 ISSN: 0018-9499; 1558-1578 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Nuclear Energy and Engineering ; Nuclear and High Energy Physics Entstehung: Anmerkungen: