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Medientyp: Elektronischer Konferenzbericht Titel: Wave-optical analysis of submicron focus of hard x-ray beams by reflective optics Beteiligte: Yamauchi, Kazuto; Yamamura, Kazuya; Mimura, Hidekazu; Sano, Yasuhisa; Saito, Akira; Kanaoka, Masahiko; Endo, Katsuyoshi; Souvorov, Alexei; Yabashi, Makina; Tamasaku, Kenji; Ishikawa, Tetsuya; Mori, Yuzo Erschienen: SPIE, 2002 Erschienen in: SPIE Proceedings Umfang: Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1117/12.453752 ISSN: 0277-786X Entstehung: Anmerkungen: