> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp: Elektronischer Konferenzbericht Titel: Snap-back temperature dependence for an Epi-CMOS ASIC-process up to 250 degrees C Beteiligte: Uffmann, Dirk; Ibrom, Christina; Ackermann, Joerg; Stemmer, Jens; Aderhold, Jochen Erschienen: SPIE, 1996 Erschienen in: SPIE Proceedings Umfang: Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1117/12.250891 ISSN: 0277-786X Entstehung: Anmerkungen: