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Medientyp: Elektronischer Konferenzbericht Titel: Optical constants from synchrotron reflectance measurements of AXAF witness mirrors 2 to 12 keV Beteiligte: Graessle, Dale E.; Burek, Anthony J.; Fitch, Jonathan J.; Harris, Bernard; Schwartz, Daniel A.; Blake, Richard L. Erschienen: SPIE, 1997 Erschienen in: Grazing Incidence and Multilayer X-Ray Optical Systems Umfang: Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1117/12.278886 ISSN: 0277-786X Entstehung: Anmerkungen: