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  1. Goodhew, Peter J. [VerfasserIn] ; Humphreys, F. J. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Beanland, Richard [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Electron microscopy and analysis - [3. ed.]

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    London [u.a.]: Taylor & Francis, 2001

  2. Amelinckx, Severin [HerausgeberIn]; Dyck, Dirk van [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Landuyt, Joseph van [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Tendeloo, Gustaaf, van [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Electron microscopy : principles and fundamentals

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    Weinheim: VCH, 1997

  3. Flegler, Stanley L. [VerfasserIn]; Heckman, John W. [VerfasserIn]; Klomparens, Karen L. [VerfasserIn]

    Elektronenmikroskopie : Grundlagen, Methoden, Anwendungen

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    Heidelberg; Berlin [u.a.]: Spektrum, Akad. Verl., 1995

  4. Severs, Nicholas John [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Shotton, David M. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Severs, Nicholas J. [HerausgeberIn]

    Rapid freezing, freeze fracture, and deep etching

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    New York [u.a.]: Wiley-Liss, 1995

    Erschienen in: Techniques in modern biomedical microscopy