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Medientyp: Buch Titel: In situ scanning electron microscopy in materials research Beteiligte: Wetzig, Klaus [Hrsg.]; Schulze, Dietrich [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Erschienen: Berlin: Akad.-Verl. [u.a.], 1995 Ausgabe: 1. ed. Umfang: 243 S.; Ill., graph. Darst Sprache: Englisch ISBN: 3055013050 RVK-Notation: UH 6310 : Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines UH 6300 : Transmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines ZM 3700 : zerstörungsfreie WC 3100 : Elektronenmikroskopie Schlagwörter: Rasterelektronenmikroskopie > In situ Rasterelektronenmikroskop > Werkstoffkunde Entstehung: Anmerkungen: Literaturangaben
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