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Sullivan, Daniel J. D. [VerfasserIn]; Carleton, Eric J. [VerfasserIn]

Failure analysis : high technology devices

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Boston; Berlin: De Gruyter, [2022]

Erschienen in: De Gruyter STEM
Freese, Wolfgang [VerfasserIn]

Erstellung von Fehlerbäumen : eine strukturierte und systematische Methode

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München: Hanser, 2015
Bailey, Brian [VerfasserIn]; Martin, Grant [VerfasserIn]; Piziali, Andrew [VerfasserIn]

ESL design and verification : a prescription for electronic system-level methodology

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Amsterdam; Heidelberg [u.a.]: Elsevier, 2007

Erschienen in: Morgan Kaufmann series in systems on silicon
Isermann, Rolf [VerfasserIn]

Fault-diagnosis systems : an introduction from fault detection to fault tolerance

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2006
Hora, Stefania Camelia [VerfasserIn]

On diagnosing faults in digital circuits

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2002
Irwin, J. David [VerfasserIn] ; Wu, Chwan-Hwa [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Basic engineering circuit analysis - [6. ed.]

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Upper Saddle River, N.J: Prentice-Hall, 1999
Lala, Parag K. [VerfasserIn]

Digital circuit testing and testability

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San Diego [u.a.]: Academic Press, c1997
Abramovici, Miron [VerfasserIn]; Breuer, Melvin A. [VerfasserIn]; Friedman, Arthur D. [VerfasserIn]

Digital systems testing and testable design - [Rev. print.]

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New York, NY: IEEE Press, 1990

Erschienen in: Electrical engineering, circuits and systems, computers
Gerner, Manfred [VerfasserIn]; Müller, Bruno [VerfasserIn]; Sandweg, Gerd [VerfasserIn]

Selbsttest digitaler Schaltungen

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München; Wien: Oldenbourg, 1990

Erschienen in: Grundlagen der Schaltungstechnik
Eveking, Hans [VerfasserIn]

Verifikation digitaler Systeme : eine Einführung in den Entwurf korrekter digitaler Systeme

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Stuttgart: Teubner, 1991

Erschienen in: Leitfäden und Monographien der Informatik
Bochmann, Dieter [HerausgeberIn]; Ubar, Raimund [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Allnoch, Günter [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Fehler in Automaten - [1. Aufl.]

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Berlin: Verl. Technik, 1989
Voelkel, Lutz [VerfasserIn]; Pliquett, Jürgen [VerfasserIn]

Signaturanalyse : theoret. Grundlagen u. Probleme ; Ausblick u. Anwendungen

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Berlin: Akademie-Verl., 1988

Erschienen in: Informatik, Kybernetik, Rechentechnik ; 20
Wojtkowiak, Hans [VerfasserIn]

Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen ; mit 43 Tabellen und 18 Aufgaben mit Lösungen

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Stuttgart: B.G. Teubner, 1988

Erschienen in: Leitfäden und Monographien der Informatik
Schulz, Michael H. [VerfasserIn]

Testmustergenerierung und Fehlersimulation in digitalen Schaltungen mit hoher Komplexität

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1988

Erschienen in: Informatik-Fachberichte ; 173
Graf, Steffen [VerfasserIn]; Gössel, Michael [VerfasserIn]

Fehlererkennungsschaltungen : mit ... 33 Tab.

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München [u.a.]: Oldenbourg, 1987

Erschienen in: Grundlagen der Schaltungstechnik
Niermann, Ulrich [VerfasserIn]; Krecker, Wolfgang [VerfasserIn]

Logikanalyse : Grundlagen und Praxis der Logikanalyse und Datenübertragung, Auswahlkriterien, Entwicklungstrends - [1. Aufl.]

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Würzburg: Vogel, 1986

Erschienen in: Vogel-Fachbuch ; Elektronik ; Messtechnik
Morgenstern, Claus [VerfasserIn]

Prognose und Optimierung der Qualtitätsmerkmale und Zuverlässigkeitskenngrößen von Erzeugnissen bei monotoner Parameterdrift / 2, Bild- und Anlagenband

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1985

Erschienen in: Prognose und Optimierung der Qualtitätsmerkmale und Zuverlässigkeitskenngrößen von Erzeugnissen bei monotoner Parameterdrift / Claus Morgenstern ; 2
Morgenstern, Claus [VerfasserIn]

Prognose und Optimierung der Qualtitätsmerkmale und Zuverlässigkeitskenngrößen von Erzeugnissen bei monotoner Parameterdrift / 1, Textband

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1985

Erschienen in: Prognose und Optimierung der Qualtitätsmerkmale und Zuverlässigkeitskenngrößen von Erzeugnissen bei monotoner Parameterdrift / Claus Morgenstern ; 1
Korotaev, Nikolaj A. [VerfasserIn]; Ljulʹkin, Arkadij E. [VerfasserIn]

Avtomatizacija testovogo diagnostirovanija diskretnych ustrojstv

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Minsk: Izdat. BGU im. V. I. Lenina, 1983
Rathmann, Klaus [VerfasserIn]

Untersuchungen von Zuverlässigkeits-Prüfplänen mit dem Ziel der Senkung des Aufwandes beim Nachweis der Zuverlässigkeitskennwerte von Hör-Rundfunkempfängern

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1983

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