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Medientyp: Buch Titel: Digital circuit testing and testability Beteiligte: Lala, Parag K. [VerfasserIn] Erschienen: San Diego [u.a.]: Academic Press, c1997 Umfang: XII,199 S; graph. Darst; 24cm Sprache: Englisch ISBN: 0124343309 RVK-Notation: ZN 5680 : Fehleranalyse; Zuverlässigkeit ZN 4030 : Prüfverfahren in der Technischen Elektronik allgemein; Fehlererkennungsschaltungen; Test elektronischer Schaltungen und Bauelemente Schlagwörter: Integrated circuits Very large scale integration Testing ; Digital integrated circuits Testing ; Integrated circuits Fault tolerance Entstehung: Anmerkungen: Literaturangaben