Media type: E-Book Title: Parametrisierte Speicherzellen zur Unterstützung des Selbsttests mit optimierten und konventionellen Zufallsmustern Contributor: Kesel, Frank [Author]; Wunderlich, Hans-Joachim [Author] imprint: 1989 Online-Ausg.: Stuttgart: Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart, 2012 Language: German Identifier: Keywords: Selbsttest ; Prüfprogramm ; LSI Type of reproduction: Online-Ausg. Place of reproduction: Stuttgart: Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart, 2012 Origination: Footnote: Aus: Entwurf integrierter Schaltungen / Herwig Heckl (Hrsg.). - Sankt Augustin : GMD, 1989. - (GMD-Studien ; 155). - S. 75 - 84 Access State: Open Access