Media type: Book; Thesis Title: Zuverlässigkeit von großflächigen Verbindungen in der Leistungselektronik : ein Beitrag zum "Design for Reliability" Other titles: Nebent.: Zuverlässigkeit von Leistungselektronik Contains: Literaturverz. S. 187 - 199 Contributor: Thoben, Markus [Author] imprint: Düsseldorf: VDI-Verl., 2002 Published in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschrittberichte VDI / 9 ; 363 Berichte des Instituts für elektrische Antriebe, Leistungselektronik und Bauelemente der Universität Bremen Issue: Als Ms. gedr. Extent: VIII, 199 S; Ill., graph. Darst; 21 cm Language: German ISBN: 3183363097 RVK notation: ZN 1000 : Fortschrittsberichte und Referateorgane ZN 4040 : Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente und Geräte Keywords: Leistungselektronik > Elektronisches Bauelement > Zuverlässigkeit > Lötverbindung > Thermische Ermüdung > Lebensdauer Leistungselektronik > Elektronisches Bauelement > Zuverlässigkeit > Lötverbindung > Thermische Ermüdung > Lebensdauer Origination: University thesis: Zugl.: Bremen, Univ., Diss., 2002 Footnote:
Departmental Library DrePunct – open access area Shelf-mark: ZN 1701-363 Item ID: 30985237 Status: Loanable