Description:
<jats:title>Abstract</jats:title><jats:p>In den letzten Jahrzehnten ist die quantitative Bestimmung von Oberflächenstrukturen zu einem wichtigen und interessanten Gebiet der Festkörperphysik geworden. Eine der leistungsfähigsten Methoden dieser Oberflächenkristallographie ist die Beugung langsamer Elektronen (<jats:italic>Low Energy Electron Diffraction</jats:italic> = LEED). Mittels Analyse von LEED‐Bildern und ‐Intensitäten können Gestalt und Größe der Oberflächeneinheitszelle, der Ordnungszustand und der atomare Aufbau bestimmt werden. Hochentwickelte Videomeßtechniken erlauben eine schnelle und verläßliche Datenaufnahme. Die dynamische Analyse der Intensitäten, die die Vielfachstreuung der Elektronen berücksichtigt, liefert den strukturellen Aufbau der Oberfläche mit einer Genauigkeit von bis zu 10<jats:sup>−12</jats:sup> m.</jats:p>