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Medientyp: E-Book; Konferenzbericht Titel: Proceedings of 2017 IEEE Far East NDT New Technology & Application Forum (FENDT 2017) : June 22-24, 2017, Xi'an, China Weitere Titel: Abweichender Titel: 2017 IEEE Far East Forum on Nondestructive Evaluation/Testing: New Technology & Application (IEEE FENDT 2017) Beteiligte: Xu, Chunguang [HerausgeberIn] Körperschaft: Institute of Electrical and Electronics Engineers Erschienen: [Piscataway, NJ]: IEEE, 2018 Umfang: 1 Online-Ressource; Illustrationen Sprache: Englisch ISBN: 9781538616154 Schlagwörter: Konferenzschrift Entstehung: Anmerkungen: Literaturangaben