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Gielen, Georges [VeranstalterIn]; Stucchi, Michele [VeranstalterIn]; Taouil, Mottaqiallah [HerausgeberIn] ; IEEE European Test Symposium 26. 2021 Online, Institute of Electrical and Electronics Engineers, Institute of Electrical and Electronics Engineers

2021 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2021 : May 24-28, 2021, Belgium : proceedings

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  • Medientyp: E-Book; Konferenzbericht
  • Titel: 2021 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2021 : May 24-28, 2021, Belgium : proceedings
  • Beteiligte: Gielen, Georges [VeranstalterIn]; Stucchi, Michele [VeranstalterIn]; Taouil, Mottaqiallah [HerausgeberIn]
  • Körperschaft: Institute of Electrical and Electronics Engineers
  • Erschienen: [Piscataway, NJ]: IEEE, 2021
  • Umfang: 1 Online-Ressource; Illustrationen
  • Sprache: Englisch
  • DOI: 10.1109/ETS50041.2021
  • ISBN: 9781665418492
  • Identifikator:
  • Schlagwörter: Chip > Testen
  • Entstehung:
  • Anmerkungen: "In 2021, ETS will be organised virtually on-line." - Homepage des Symposiums
    Literaturangaben