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Medientyp: Buch Titel: Die Zuverlässigkeit von Elektronik- und Mikrosystemen : und ihr Zusammenhang mit Physik, Chemie und Metallkunde ; mit 21 Tabellen Beteiligte: Eigler, Hans [VerfasserIn] Erschienen: Renningen-Malmsheim: Expert Verl., 2003 Umfang: 372 S; graph. Darst; 21 cm Sprache: Deutsch ISBN: 3816921590 RVK-Notation: ZN 4040 : Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente und Geräte Schlagwörter: Halbleiterbauelement > Gitterbaufehler > Degradation > Zuverlässigkeit Integrierte Schaltung > Gitterbaufehler > Degradation > Zuverlässigkeit Optoelektronisches Bauelement > Gitterbaufehler > Degradation > Zuverlässigkeit Mikromechanik > Gitterbaufehler > Degradation > Zuverlässigkeit Mikroelektronik > Mikrosystemtechnik > Zuverlässigkeit Entstehung: Anmerkungen: Literaturverz. S. [323]-354