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Medientyp: Buch; Hochschulschrift Titel: Test und Selbsttest von analogen Auswerteelektroniken bei Sensorsystemen in der Betriebsphase Beteiligte: Latzel, Stephan [VerfasserIn] Erschienen: Berlin: Logos, 2008 Umfang: X, 131 S.; graph. Darst; 20 cm Sprache: Deutsch ISBN: 9783832520120 RVK-Notation: ZQ 3155 : Prüfeinrichtungen Schlagwörter: Intelligenter Sensor > Integrierter Sensor > Selbsttest > Betriebsverhalten > Fehlersimulation > Analogsimulation Intelligenter Sensor > Integrierter Sensor > Selbsttest > Betriebsverhalten > Fehlersimulation > Analogsimulation Entstehung: Hochschulschrift: Zugl.: Bremen, Univ., Diss., 2008 Anmerkungen: