Structural, syntactic, and statistical pattern recognition: joint IAPR international workshop, SSPR & SPR 2010, Cesme, Izmir, Turkey, August 18-20, 2010 ; proceedings

Medientyp: Buch; Konferenzbericht

Titel: Structural, syntactic, and statistical pattern recognition : joint IAPR international workshop, SSPR & SPR 2010, Cesme, Izmir, Turkey, August 18-20, 2010 ; proceedings

Beteiligte: Hancock, Edwin R. [Hrsg.]; Wilson, Richard C. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Windeatt, Terry [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Ulusoy, Ilkay [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Escolano, Francisco [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Veranstaltung: SSPR SPR

Erschienen: Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2010

Umfang: XV, 758 S.; Ill., graph. Darst

Sprache: Englisch

ISBN: 3642149790; 9783642149795

Verlags-, Produktions- oder Bestellnummern: Sonstige Nummer: 80020412

RVK-Notation: SS 4800 : Lecture notes in computer science

Schlagwörter: Mustererkennung

Entstehung:

Anmerkungen: Literaturangaben

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0 : Lecture notes in computer science

Structural, syntactic, and statistical pattern recognition : joint IAPR international workshop, SSPR & SPR 2010, Cesme, Izmir, Turkey, August 18-20, 2010 ; proceedings

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