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Medientyp: E-Artikel Titel: The Design and Characterization of a Half-Volt 32 nm Dual-Read 6T SRAM Beteiligte: Kuang, Jente B.; Schaub, Jeremy D.; Gebara, Fadi H.; Wendel, Dieter; Frohnel, Thomas; Saroop, Sudesh; Nassif, Sani; Nowka, Kevin Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2011 Erschienen in: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tcsi.2011.2162459 ISSN: 1558-0806; 1549-8328 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering Entstehung: Anmerkungen: