Huschens, Stefan
[VerfasserIn]
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Kim, Jeong-Ryeol
[Sonstige Person, Familie und Körperschaft];
Kurz-Kim, Jeong-Ryeol
[Sonstige Person, Familie und Körperschaft]Technische Universität Dresden Fakultät Wirtschaftswissenschaften
Measuring risk in value-at-risk in the presence of infinite variance