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Huang, Jin [VerfasserIn] ; Technische Universität Dresden

Advanced focused ion beam: preparation optimization and damage mitigation

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Dresden, [2018?]
Bohm, Johannes [VerfasserIn]

InduLIT : Induktiv angeregte Lock-in-Thermografie zur zerstörungsfreien Funktionsprüfung in der Elektronik - [1. Aufl.]

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Templin: Detert, 2015

Erschienen in: System integration in electronic packaging ; 22
Gust, Norbert [VerfasserIn]

Improvement of signal analysis for the ultrasonic microscopy

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Dresden: TUDpress, Verl. der Wiss., 2011

Erschienen in: Dresdner Beiträge zur zerstörungsfreien Prüftechnik ; 2
Breitenstein, Otwin [VerfasserIn]; Warta, Wilhelm [VerfasserIn]; Langenkamp, Martin [VerfasserIn]

Lock-in thermography : basics and use for evaluating electronic devices and materials - [2. ed.]

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Berlin; Heidelberg: Springer, 2010

Erschienen in: Advanced microelectronics ; 10
Bennis, Abdelali [VerfasserIn]

Entwicklung einer kontaktfreien nichtdestruktiven Methode zur Messung von mechanischen und elastischen Eigenschaften von mikromechanischen Mehrschichtsystemen mit akustischen Oberflächenwellen

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Chemnitz: Universitätsverlag Chemnitz, 2009
Osten, Wolfgang [HerausgeberIn]

Optical inspection of microsystems

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Boca Raton, Fla. [u.a.]: CRC / Taylor & Francis, 2007

Erschienen in: Optical science and engineering ; 109
Schaulin, Michael [VerfasserIn]

Optische 3D-Inspektion von Bauelementen der Systemintegration - [1. Aufl.]

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Templin: Detert, 2007

Erschienen in: Themenreihe: Elektronik-Technologie in Forschung und Praxis ; 15
Breitenstein, Otwin [VerfasserIn]; Langenkamp, Martin [VerfasserIn]

Lock-in thermography : basics and use for functional diagnostics of electronic components

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2003

Erschienen in: Advanced microelectronics ; 10
MacKeown, Stephen A. [VerfasserIn]; McKeown, Stephen A. [VerfasserIn]

Mechanical analysis of electronic packaging systems

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New York; Basel: Dekker, 1999

Erschienen in: Mechanical engineering ; 12000
Hartke, Andreas [VerfasserIn]

Automatische visuelle Inspektion in der Elektroniktechnologie

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1993
Lopuchin, Vladimir A. [VerfasserIn] ; Gurylev, Aleksandr S. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Avtomatizacija vizualʹnogo technologičeskogo kontrolja v ėlektronnom priborostroenii

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Leningrad: Mašinostroenie, 1987
Dubickij, Lev G. [BearbeiterIn]; Dubickij, L.G [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Optičeskie metody kontrolja integralʹnych mikroschem : sostojanie i perspektivy soveršenstvovanija

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Moskva: Radio i Svjazʹ, 1982

Erschienen in: Massovaja biblioteka inženera, elektronika ; 32
Huang, Jin [VerfasserIn] ; Zschech, Ehrenfried [AkademischeR BetreuerIn]; Boit, Christian [AkademischeR BetreuerIn]; Möller, Wolfhard [AkademischeR BetreuerIn] Technische Universität Dresden

Advanced focused ion beam: preparation optimization and damage mitigation

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Dresden, 2019
Gust, Norbert [VerfasserIn]

Improvement of signal analysis for the ultrasonic microscopy

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2010 [erschienen] 2011 ; Online-Ausg.: 2011
Bennis, Abdelali [VerfasserIn]

Entwicklung einer kontaktfreien nichtdestruktiven Methode zur Messung von mechanischen und elastischen Eigenschaften von mikromechanischen Mehrschichtsystemen mit akustischen Oberflächenwellen

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Zugang

http://archiv.tu-chemnitz.de/pub/2009/0161

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Chemnitz: Universitätsverlag Chemnitz, 2009
Huang, Jin [VerfasserIn] ; Zschech, Ehrenfried [AkademischeR BetreuerIn]; Boit, Christian [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Möller, Wolfhard [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Advanced Focused Ion Beam: Preparation Optimization and Damage Mitigation

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https://d-nb.info/1226899218/34

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Dresden: Technische Universität Dresden, 2019
Gust, Norbert [VerfasserIn] ; Kühnicke, Elfgard [AkademischeR BetreuerIn]; Meyendorf, Norbert [AkademischeR BetreuerIn]

Improvement of signal analysis for the ultrasonic microscopy

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https://d-nb.info/1067189602/34

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Dresden: Saechsische Landesbibliothek- Staats- und Universitaetsbibliothek Dresden; Dresden: Technische Universität Dresden; Dresden: Technische Universität Dresden, 2011

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