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  2. Lin, Qinghuang [HerausgeberIn]; Engelmann, Sebastian U. [HerausgeberIn] ; SPIE Conference on Advanced Etch Technology for Nanopatterning 2016 San Jose, Calif, SPIE

    Advanced Etch Technology for Nanopatterning V : 22-23 February 2016, San Jose, California, United States

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2016]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 9782

  3. Lin, Qinghuang [HerausgeberIn]; Engelmann, Sebastian U. [HerausgeberIn] ; SPIE Conference on Advanced Etch Technology for Nanopatterning 2015 San Jose, Calif, SPIE, SPIE

    Advanced Etch Technology for Nanopatterning IV : 23-25 February 2015, San Jose, California, United States

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2015]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 9428

  8. Lin, Qinghuang; Sooriyakumaran, Ratnam; Huang, Wu-Song

    Toward controlled resist line-edge roughness: material origin of line-edge roughness in chemically amplified positive-tone resists

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    SPIE, 2000

    Erschienen in: Advances in Resist Technology and Processing XVII

  10. Lin, Eric K.; Wu, Wen-li; Lin, Qinghuang; Angelopoulos, Marie

    Feature-shape and line-edge roughness measurement of deep submicron lithographic structures using small-angle neutron scattering

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    SPIE, 2001

    Erschienen in: SPIE Proceedings

  14. Lin, Qinghuang; Katnani, Ahmad D.; Willson, C. Grant

    Effects of crosslinking agent on lithographic performance of negative-tone resists based on poly(p-hydroxystyrene)

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    SPIE, 1997

    Erschienen in: Advances in Resist Technology and Processing XIV

  19. Lan, Hanhong; Hong, Xiaojing; Huang, Ranran; Lin, Xin; Li, Qinghuang; Li, Kaihui; Zhou, Tao

    RNA interference‐mediated knockdown and virus‐induced suppression of Troponin C gene adversely affect the behavior or fitness of the green rice leafhopper, Nephotettix cincticeps

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    Wiley, 2018

    Erschienen in: Archives of Insect Biochemistry and Physiology